顺发彩票

返回首页 在线留言 联系我们

产品目录

联系方式

北京欧屹科技有限公司
联系人:鲁工 王工
手机:13910937780,17600738803
电话:010-51528178
V8彩票11wenxue.com版权所有
邮编:102208
邮箱:bobwang@oelectron.com

相关文章

    暂时没有信息
产品图片 产品名称/型号 产品描述
  • PA-110-t晶圆相位差测量仪,Z大可测8英寸Wafer蓝宝石、SiC晶圆等结晶缺陷的评估,蓝宝石或SiC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到产品的性能,所以缺陷的检测和管理是制造过程中不可欠缺的重要环节。目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏光片以目视方式进行缺陷检测,但是这样的检查方式,因无法将缺陷量化,当各批量间产生变动或者缺陷密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。
  • 晶圆相位差测量仪PA-110-t,Z大可测8英寸Wafer蓝宝石、SiC晶圆等结晶缺陷的评估,蓝宝石或SiC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到产品的性能,所以缺陷的检测和管理是制造过程中不可欠缺的重要环节。目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏光片以目视方式进行缺陷检测,但是这样的检查方式,因无法将缺陷量化,当各批量间产生变动或者缺陷密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。
共 2 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
网站首页 公司简介 产品中心 招聘中心 技术支持 企业动态 联系我们 管理登陆
北京欧屹科技有限公司专业提供晶圆相位差测量仪等信息,欢迎来电咨询!
GoogleSitemap ICP备案号:京ICP备15048507号-2 技术支持:中国化工仪器网
友情链接:V8彩票手机版  K8彩票  V8彩票  V8彩票注册  K8彩票平台  K8彩票官网  K8彩票网  K8彩票  

免责声明: 本站资料及图片来源互联网文章,本网不承担任何由内容信息所引起的争议和法律责任。所有作品版权归原创作者所有,与本站立场无关,如用户分享不慎侵犯了您的权益,请联系我们告知,我们将做删除处理!