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  • ME-210-T膜厚测量仪为一种光学系膜厚测量装置,这个装置的特点是可以高精度测量1nm一下的极薄膜,也适合测量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T活用了本公司特有的偏光Senor技术,将不能变为可能,以往的技术是无法测量0.5mm厚的玻璃基板,在这项技术下,可进行极薄膜的高精度测量,举例来说显示器用的ITO膜或配向膜的评估,也可运用ME-210-T轻松达成。
  • 膜厚测量仪为一种光学系膜厚测量装置,这个装置的特点是可以高精度测量1nm一下的极薄膜,也适合测量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T活用了本公司特有的偏光Senor技术,将不能变为可能,以往的技术是无法测量0.5mm厚的玻璃基板,在这项技术下,可进行极薄膜的高精度测量,举例来说显示器用的ITO膜或配向膜的评估,也可运用ME-210-T轻松达成。
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