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  • 双折射仪-应用3D玻璃——PA200和PA200-L-L是Photoniclattic公司以其L先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量3D玻璃,晶体等产品的双折射效应,得出精确的相位差数值,从而量化出产品应力数值,在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。广泛应用于手机3D玻璃的研发,生产,质量测试中。
  • PA-200-L应力仪系列是Photoniclattic公司以其L先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器,Z适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
  • ME-210-T膜厚测量仪为一种光学系膜厚测量装置,这个装置的特点是可以高精度测量1nm一下的极薄膜,也适合测量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T活用了本公司特有的偏光Senor技术,将不能变为可能,以往的技术是无法测量0.5mm厚的玻璃基板,在这项技术下,可进行极薄膜的高精度测量,举例来说显示器用的ITO膜或配向膜的评估,也可运用ME-210-T轻松达成。
  • PI-100偏振相机測量?看見偏光變動的那瞬間該相機為可拍攝影片的相機,並以20Film/秒的速度拍攝偏光圖像。對於明亮度變化不明顯物體的輪廓辨識或是雷射光的偏光計測都很有幫助。
  • PA-110-t晶圆相位差测量仪,Z大可测8英寸Wafer蓝宝石、SiC晶圆等结晶缺陷的评估,蓝宝石或SiC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到产品的性能,所以缺陷的检测和管理是制造过程中不可欠缺的重要环节。目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏光片以目视方式进行缺陷检测,但是这样的检查方式,因无法将缺陷量化,当各批量间产生变动或者缺陷密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。
  • 玻璃应力仪——PA200和PA200-L-L是Photoniclattic公司以其L先世界的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量3D玻璃,晶体等产品的双折射效应,得出精确的相位差数值,从而量化出产品应力数值,在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。广泛应用于手机3D玻璃的研发,生产,质量测试中。
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